No disponible en español

Estado : Publicado (Para revisar)

Esta norma será reemplazada por ISO 14594
Formato Idioma
PDF + ePub
Papel
  • CHF96
Convertir Franco suizo (CHF) a tu moneda

Resumen

ISO 14594:2014 gives the general guidelines for the determination of experimental parameters relating to the primary beam, the wavelength spectrometer, and the sample that need to be taken into account when carrying out electron probe microanalysis. It also defines procedures for the determination of beam current, current density, dead time, wavelength resolution, background, analysis area, analysis depth, and analysis volume.

It is intended for the analysis of a well-polished sample using normal beam incidence, and the parameters obtained can only be indicative for other experimental conditions.

It is not designed to be used for energy dispersive X-ray spectroscopy.

Standard first page

Preview 

Previsualice esta norma en nuestra Plataforma de navegación en línea (OBP)

Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2014-10
    Etapa
    : Norma Internacional para revisar [90.92]
  • Edición
     : 2
    Número de páginas
     : 18
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202/SC 2
    ICS :
    71.040.50 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

Got a question?

Check out our FAQs

Customer care
+41 22 749 08 88

Opening hours:
Monday to Friday - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Tienda
  3. Standards catalogue
  4. TC
  5. ISO/TC 202/SC 2
  6. ISO 14594:2014