Résumé

The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.


Informations générales 

  • État actuel
     :  Annulée
    Date de publication
     : 1993-08
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 3
  • Comité technique
     : ISO/TC 171/SC 2 Formats de fichier des documents, systèmes de gestion électronique et authenticité de l'information
  • ICS
     :
    37.080 Applications imagerie documentaire

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