ISO 15632:2012
2012-08
Résumé
La présente Norme internationale définit les paramètres les plus importants qui caractérisent un spectromètre X à sélection d'énergie consistant en un détecteur semi-conducteur, un préamplificateur et une unité de traitement des signaux en tant que parties essentielles. La présente Norme internationale est applicable uniquement aux spectromètres ayant des détecteurs semi-conducteurs fonctionnant selon le principe de l'ionisation à l'état solide. La présente Norme internationale spécifie les exigences minimales, ainsi que la façon appropriée de contrôler les paramètres de performance de l'appareil, pour de tels spectromètres reliés à un microscope électronique à balayage (MEB) ou à une microsonde électronique (EPMA). Le mode opératoire utilisé pour l'analyse effective est décrit dans l'ISO 22309[2] et dans l'ASTM E1508[3] et ne relève pas du domaine d'application de la présente Norme internationale.
Informations générales
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État actuel: AnnuléeDate de publication: 2012-08Stade: Annulation de la Norme internationale [95.99]
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Edition: 2Nombre de pages: 12
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Comité technique :ISO/TC 202ICS :71.040.99
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Cycle de vie
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Précédemment
AnnuléeISO 15632:2002
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Actuellement
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Révisée par
PubliéeISO 15632:2021