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Résumé

This document gives guidance on the measurement and use of experimentally-determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials by Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. The methods described only apply to polycrystalline and amorphous materials, as effects inherent to single-crystal samples are not addressed.

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Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2024-02
    Stade
    : Norme internationale publiée [60.60]
  • Edition
     : 3
  • Comité technique :
    ISO/TC 201/SC 7
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS mises à jour

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9
Industrie, innovation et infrastructure

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