International Standard
ISO 17470:2014
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Reference number
ISO 17470:2014
Edición 2
2014-01
International Standard
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ISO 17470:2014
64783
No disponible en español
Publicado (Edición 2, 2014)
Esta norma se revisó y confirmó por última vez en 2019. Por lo tanto, esta versión es la actual.

ISO 17470:2014

ISO 17470:2014
64783
Idioma
Formato
CHF 63
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Resumen

ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Informaciones generales

  •  : Publicado
     : 2014-01
    : Norma Internacional en proceso de revisión sistemática [90.20]
  •  : 2
     : 10
  • ISO/TC 202/SC 2
    71.040.99 
  • RSS actualizaciones

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