Reference number
ISO 23833:2013
ISO 23833:2013
© ISO 2024
International Standard
ISO 23833:2013
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis (EPMA) — Vocabulary
Edition 2
2013-04
2013-04
Тезис
ISO 23833:2013 defines terms used in the practices of electron probe microanalysis (EPMA). It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order.
ISO 23833:2013 is applicable to all standardization documents relevant to the practices of EPMA. In addition, some parts of ISO 23833:2013 are applicable to those documents relevant to the practices of related fields (SEM, AEM, EDX, etc.) for definition of those terms common to them.
Общая информация
-
Текущий статус: ОпубликованоДата публикации: 2013-04Этап: Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
-
Версия: 2
-
Технический комитет :ISO/TC 202/SC 1
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Ранее
ОтозваноISO 23833:2006
-
Сейчас
ОпубликованоISO 23833:2013
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Этап: 90.60 (Hа стадии пересмотра)-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00