ISO/TR 24119:2015
p
ISO/TR 24119:2015
63160
недоступно на русском языке
Текущий статус : Опубликовано
ru
Формат Язык
std 1 124 PDF
std 2 124 Бумажный
  • CHF124
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO/TR 24119:2015 illustrates and explains principles of fault masking in applications where multiple interlocking devices with potential free contacts (B1 to Bn) are connected in series to one logic unit (K) which does the diagnostics (see Figures 1 to 7). It further provides a guide how to estimate the probability of fault masking and the maximum DC for the involved interlocking devices. This Technical Report only covers interlocking devices in which both channels are physical serial connections.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2015-11
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 199
    13.110 
  • RSS обновления

Preview 

Предварительно ознакомьтесь с этим стандартом в нашем Он-лайн библиотека стандартов (OBP)

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)