Тезис
ISO/TR 24119:2015 illustrates and explains principles of fault masking in applications where multiple interlocking devices with potential free contacts (B1 to Bn) are connected in series to one logic unit (K) which does the diagnostics (see Figures 1 to 7). It further provides a guide how to estimate the probability of fault masking and the maximum DC for the involved interlocking devices. This Technical Report only covers interlocking devices in which both channels are physical serial connections.
Общая информация
-
Текущий статус: ОпубликованоДата публикации: 2015-11Этап: Опубликование международного стандарта [60.60]
-
Версия: 1
-
Технический комитет :ISO/TC 199ICS :13.110
- RSS обновления
Preview
Предварительно ознакомьтесь с этим стандартом в нашем Он-лайн библиотека стандартов (OBP)
Жизненный цикл
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)