ISO 22278:2020
p
ISO 22278:2020
73015
недоступно на русском языке

This document specifies the test method for measuring the crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using the XRD method with parallel X-ray beam. This document is applicable to all of the single-crystal thin film (wafer) as bulk or epitaxial layer structure.


Общая информация 

  •  :  Published
     : 2020-08
  •  : 1
  •  : ISO/TC 206 Fine ceramics
  •  :
    81.060.30 Advanced ceramics

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития:

Приобрести данный стандарт

ru
Формат Язык
std 1 138 PDF + ePub
std 2 138 Бумажный
  • CHF138

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.